AP-CJ半导体冷热冲击试验箱

半导体冷热冲击试验箱适用于工业产品高、低温的可靠性试验。对电子电工、汽车摩托、高等院校、科研单位等相关产品的零部件及材料在高、低温(交变)循环变化的情况下,检验其各项性能指标。产品具有较宽的温度控制范围,其性能指标均达到国家标准GB10592-89高低温湿热试验箱技术条件,适用于按GB2423.1、GB2423.2《电工电子产品环境试验 试验A:低温试验方法

更新时间:2024-11-03型号:AP-CJ访问量:4103
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